高周波回路における解析手法の研究

■電子情報部　○橘泰至，吉村慶之，田村陽一，杉浦宏和

１．目　的
　近年，電子機器では，内部の電子回路を高周波で動作させることによる高性能化が進んでいる。高周波信号は電子基板配線の高周波特性の影響を受け，電圧波形が減衰したり歪んだりし易くなる。このため設計の際には，電子基板配線の高周波特性を反映した電圧波形解析が重要である。しかし，汎用の回路解析ツールでは，高周波解析に重要な因子となる基板を構成する絶縁体の誘電率や誘電正接の扱いが困難であり，高周波特性を反映できないため，高周波における解析精度が低下している。
　そこで本研究では，測定した高周波特性を反映させた電圧波形を解析する手法について検討し，高周波における解析精度の向上を目的とする。

全文（PDFファイル：502KB、2ページ）

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