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高度なエレクトロニクス技術の発展に伴い，電子機器から不要電磁波が放射され，これが原因となる機器の誤動作等が問題となっている。この対策として，シールド材を用いた電磁波の遮蔽が挙げられ，効率よく遮蔽するには，数値解析によりその伝搬機構を理解しながらシールドの設計を行うことが望ましい。そこで，数値解析法として，現在，FDTD(時間領域差分)解析が広く用いられているが，シールド材などの高導電性薄板の透過を扱う問題では，セル数が増大するため実用上解析が困難である。そこで，薄板材の理論透過係数をFDTD解析へ導入することによってこの問題点を解決し，斜入射問題への適用を図ることとした。
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