走査電子顕微鏡（SEM）による織物欠点解析事例 走査電子顕微鏡（SEM）による織物欠点解析事例
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近年，新合繊や複合繊維および加工糸等の開発技術が飛躍的に進歩し，多種多様な繊維素材が開発されている。これらの繊維は物性的に特異なものが多く，織物製造工程における張力，熱等の内部特性や損傷による外部特性等の複合的な要因によって種々の欠点が発生しやすい状況にある。そこで，走査型電子顕微鏡や熱応力測定装置，熱分析システム，繊維用Ｘ線回折装置，赤外分光光度計等の測定機器を駆使して高度な解析技術により対処している。特に，電子顕微鏡観察は欠点部分を数千倍に拡大観察できるので，他の物性試験と併用すれば説得力のある明快な解析結果を得ることができる。
本報告では，年間200件以上の県内外繊維企業から依頼された織物欠点解析事例の中で，走査型電子顕微鏡を使用した代表的なものについて紹介する。
キーワード：電子顕微鏡，織物欠点
Analysis of Textile Defects by Scanning Electron Microscope (SEM)
Genji NAKANISHI and Yoshitaka MATSUMOTO
In recent years, the various materials for textile yarns are developed by using new technology of "SHINGOSEN", composite yarns, textured yarns and so on. These yarns have unique physical property so that various textile defects caused by singular tension, high temperature and external force occur easily in the weaving process.
These defects are analyzed by using a scanning electron microscope(SEM), a thermal stress tester, a thermal analysis system, a X-ray diffract meter, a Fourier transform infrared spectroscopy and so on. Especially, the analysis by SEM makes the explanation of results of the other property testing clear.
In this paper, some cases of textile defect analysis among over two hundreds tests are explained by using some photographs of the SEM.
Key Words：SEM, textile defect
１．緒 言
新合繊をはじめ多種多様な繊維素材を用いた織編物が小ロット・短納期で生産される現状において，これらに発生する欠点も大変複雑化している。また，近年の消費者ニーズの多様化や高級化にともない，従来問題視されなかった微細な欠点がクレーム対象になっている。これらの欠点解析には，光学顕微鏡と比べはるかに分解性能に優れた走査型電子顕微鏡（以下ＳＥＭ）による観察が有効である。当場でも，各種測定試験機器を使用した織物欠点解析事例を整理・分類した「織物欠点解析事例集」を第1集から第4集まで順次発行してきた。今回，ＳＥＭを用いた欠点解析事例で，特に今後のクレーム対策および品質向上に重要と考えられるものを，先の事例集の中より幾つか紹介する。
２．解析方法
２．１ 欠点解析に必要な情報収集
欠点の解析には，欠点発生箇所をよく観察すると同時に，欠点発生に関する情報を詳しく集めることが重要である。しかしながら，必ずしも十分な情報の入手が困難な場合もある。通常，欠点を解析するには，どのような工程を経て製品となったか，また，各工程における欠点の発生要因にはどのようなものがあるかを知る必要がある。
そのため，図1に示すような，各工程別に関連する要因に基づき的確な情報を得ることが重要である。
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